2017年8月消息，中國電子科技集團(tuán)公司第四十研究所主持制定的國際標(biāo)準(zhǔn)提案《標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器第1部分：總規(guī)范 一般要求和試驗方法》經(jīng)英國、德國、意大利、中國等國家投票，獲得國際電工委員會（IEC）批準(zhǔn)立項。

該標(biāo)準(zhǔn)提案作為制定標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器的總規(guī)范，統(tǒng)一了標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器的一般要求、試驗方法及質(zhì)量評定程序等，為各類標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器分規(guī)范和詳細(xì)規(guī)范的制定提供依據(jù)。該國際標(biāo)準(zhǔn)的提出，對提高標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器的質(zhì)量和可靠性提供了支撐，不僅填補了IEC國際標(biāo)準(zhǔn)的空白，同時對促進(jìn)我國標(biāo)準(zhǔn)試驗射頻連接器的整體技術(shù)水平的提高、增強我國標(biāo)準(zhǔn)試驗連接器的國際競爭力創(chuàng)造了重要條件。