據(jù)歐盟2022年1月18日消息，其歐洲創(chuàng)新與研究計量計劃（EMPIR）項目“納米級可追溯磁場測量”（Nano-scale traceable magnetic field，15SIB06，NanoMag）提高了歐洲的計量能力，對磁場的精確和可追溯測量擴(kuò)展到微米和納米尺度。這為高分辨率磁場測量的國際協(xié)調(diào)做出了貢獻(xiàn)，并使得歐洲工業(yè)界能夠以前所未有的精度水平來測量和使用磁場，可供計算機(jī)、磁感應(yīng)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的工業(yè)用戶在質(zhì)量控制和產(chǎn)品性能方面制定新的標(biāo)準(zhǔn)。

EMPIR表示該項目的成果也促使《IEC TS 62607-9-1：納米制造-關(guān)鍵控制特性-第9-1部分：可追溯的空間分辨納米級雜散磁場測量-磁力顯微鏡》（IEC TS 62607-9-1: Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy）國際標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，這是首個納米級磁性測量領(lǐng)域的國際標(biāo)準(zhǔn)，將對活躍在磁成像領(lǐng)域以及納米磁性材料和設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域的公司和研究中心提供幫助。

該標(biāo)準(zhǔn)的摘要說明如下：

IEC 62607-9-1:2021確定了一種標(biāo)準(zhǔn)化方法來表現(xiàn)空間變化的磁場，通過磁力顯微鏡（MFM）對平面磁性樣品的空間分辨率低至10納米。MFM主要檢測垂直于樣品表面的雜散磁場分量。該分辨率是通過使用磁性納米結(jié)構(gòu)的參考物質(zhì)對MFM探針進(jìn)行校準(zhǔn)來實現(xiàn)的。

該IEC技術(shù)規(guī)范的目的在于規(guī)定和描述以下方面的內(nèi)容：

●用于可追溯的高分辨率雜散磁場測量的參考物質(zhì)；

●用來確定儀器校準(zhǔn)功能（ICF）的校準(zhǔn)程序，如果需要，還要確定進(jìn)入去卷積處理的MFM關(guān)鍵參數(shù)：

●去卷積處理，允許使用ICF從被測量的MFM數(shù)據(jù)中計算出定量的雜散磁場數(shù)據(jù)；

●對測量不確定度的評估，包括防止可能在測量過程中出現(xiàn)的，會導(dǎo)致對結(jié)果錯誤解讀的潛在人工制品。

本新聞由廣東省WTO/TBT通報咨詢研究中心摘錄/編輯/整理并翻譯，轉(zhuǎn)載請注明來源。

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